小型恒温老化箱

设备介绍：

老化试验箱有很多种类型，高低温老化试验箱就是其中一种，小型恒温老化箱主要是给硅胶礼品、橡胶制品、硅胶饰品、数码配件、电子产品、电器产品、光电产品等工业产品检验其各项性能指标是否能适应在高温或者低温或者高低温（交变）循环变化下的使用、生产、检测及储存。本设备具备有单独高温老化的功能、也具备单独低温老化，还可高低温交变老化、高低温循环老化、高低温恒定老化等功能。高低温老化试验箱有模拟大气环境中高低温温度的变化规律。主要针对于工业成品或者半成品以及其元器件及其它材料在高温、低温综合环境下的适应性试验。常用于工业产品鉴定，设计，改进及检验等环节。（更多联系龙小姐13316686114）
小型恒温老化箱技术参数
1.内部尺寸：(W×H×D)50×60×50cm

2.外部尺寸：(W×H×D)108×155×110cm
3.重量：约250Kg
4.调温方式：平衡调温(BTHC)PID智能调节
5.温度范围：0 ℃， -20 ℃， -40 ℃， -60 ℃， -70 ℃ ~150 ℃ ; 20%-98%R.H
6.温度控制精度：±0.2℃;
7.均匀度：±0.5℃ ~±0.2℃;
8.解析精度：±0.01%℃;
9.升温速率：≥ 3°C/min
10.降温速率：平均1°C/min
11.内箱材质：SUS#304 优质不锈钢板
13.外箱材质：SUS#304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板(烤漆)
14.绝缘材料：超细玻璃棉 + 聚胺脂泡沫
15.制冷方式：机械式二元制冷方式
16.制冷机：全封闭(法国泰康或德国谷轮)压缩机
17.制冷剂：R23/ R404A
18.冷凝方式：风冷或水冷
19.加热器：镍铬合金不锈管加热器
20.鼓风机：离心风机
21.气流方式：宽带式强迫气流循环(上出下进)22.控制器操作界面：液晶触摸显示屏，中英文切换
23.运转方式：恒定运转+程序运转
24.程序记忆容量：120 组可编程序、每个程序最大100 (段)
25.设定指标范围：温度：-100℃+300℃
26.分辨率：温度：0.1℃
27.输入：PT100或T型热电偶
28.控制方式：PID控制
29.通讯功能：RS-232 接口
小型恒温老化箱满足标准：
①GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
②GB/T2423.1-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；
③GB/T2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；
④GB/T 2423.22-2002电工电子产品基本环境试验规程  试验N 温度变化试验方法；
⑤GB/T10592-2008《高、低温试验箱技术条件》；
⑥GB/T 10589-2008《低温试验箱技术条件》；。
⑦MIL-STD810D方法502.2 美国军用标准；
⑧IEC 68-2-1-1990 中文名称: 基本环境试验规程.第2部分:第1节.试验.试验A:低温试验
⑨EC68-2-14_试验方法N_温度变化