冷热冲击试验箱属于温度应力可靠性测试设备，依据 GB/T 2423.22 试验 Nc 温度骤变试验方法设计，分为两箱提篮式与三箱蓄温式两大类型。

• 两箱式（提篮式）：包含高温区、低温区，样品放置于提篮中快速移动切换温区，温度转换速度快，冲击应力强；

• 三箱式：设有蓄热区、蓄冷区与样品测试区，样品保持静止，依靠气动风门切换冷热气流，无机械移动振动，适合精密芯片、易碎元器件测试。

设备通过高温、低温环境快速交替，在样品内部产生热胀冷缩应力，加速暴露封装分层、焊点虚焊、材料裂纹、界面脱粘等隐性缺陷，是电子研发阶段可靠性筛选 ESS 常用设备。整机采用独立制冷与加热系统，7 寸可编程触控控制器，支持多段程序编辑、循环运行、曲线存储与 USB 数据导出。系统内置门体联锁、超温停机、压缩机过载、高低压保护等多重安全防护。

适用样品：IC 芯片、PCB 电路板、连接器、传感器、车载电子、塑胶构件、金属复合材料。 执行标准：GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、GJB150.5A。可根据样品尺寸定制工作室容积，选配通讯接口、样品带电测试端子。